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哈羅與赫德入學(xué)考試全解析:家長必讀的備考指南

來源:學(xué)校大全網(wǎng)時(shí)間:2025-09-28 11:38:42

春招季來臨,許多家庭開始為孩子的國際學(xué)校申請做準(zhǔn)備。哈羅和赫德作為北京地區(qū)備受關(guān)注的兩所國際學(xué)校,每年都吸引大量申請者。兩校的入學(xué)考試內(nèi)容各有側(cè)重,家長需提前了解,幫助孩子有針對性地備戰(zhàn)。下面將詳細(xì)介紹哈羅和赫德的入學(xué)考試內(nèi)容、評估方式及備考要點(diǎn),供家長們參考。

哈羅學(xué)校入學(xué)考試內(nèi)容

哈羅學(xué)校以其英式教育體系聞名,注重學(xué)術(shù)卓越的同時(shí),強(qiáng)調(diào)學(xué)生領(lǐng)導(dǎo)力和社會責(zé)任感的培養(yǎng)。其入學(xué)考試根據(jù)不同年級設(shè)置不同評估內(nèi)容,具體如下:

幼兒園至二年級(K-Y2)

課堂觀察:學(xué)校通過模擬課堂環(huán)境,觀察孩子的行為習(xí)慣、互動能力和語言表達(dá)水平。

面試環(huán)節(jié):主要考察孩子的溝通能力和基本英文表達(dá)能力。

三年級(Y3)

CAT4測試:評估學(xué)生的邏輯推理、語言能力和空間思維等認(rèn)知水平。

校長面談:通過簡短交流了解孩子的個(gè)性特點(diǎn)及家庭背景。

四年級至十二年級(Y4-Y12)

CAT4測試:全面考察學(xué)生的學(xué)術(shù)潛力和智力發(fā)展。

英文寫作:要求考生根據(jù)給定題目完成一篇短文,檢驗(yàn)其語言組織和邏輯表達(dá)能力。

校長面試:深入評估學(xué)生的思維方式、學(xué)習(xí)動機(jī)及與學(xué)校理念的契合度。

哈羅的入學(xué)評估注重學(xué)生的綜合素養(yǎng)和學(xué)術(shù)潛力,適合有較強(qiáng)學(xué)習(xí)能力且希望接受全面發(fā)展的孩子。

赫德學(xué)校入學(xué)考試內(nèi)容

赫德學(xué)校融合中西方教育理念,注重雙語雙文化培養(yǎng),深受家長認(rèn)可。其入學(xué)考試內(nèi)容根據(jù)不同學(xué)段有所區(qū)分,具體安排如下:

幼兒園至一年級(K-1)

模擬課堂:通過小組活動觀察孩子的學(xué)習(xí)適應(yīng)能力和行為表現(xiàn)。

中英雙語面試:了解孩子的語言基礎(chǔ)及家庭支持情況。

二年級至五年級(2-5)

語文測試:考察學(xué)生的中文閱讀理解及表達(dá)能力。

數(shù)學(xué)測試:中英文雙語題目,評估邏輯思維和計(jì)算能力。

英文測試:包括聽力、閱讀及基礎(chǔ)寫作。

面試環(huán)節(jié):時(shí)長約5分鐘,了解孩子的學(xué)習(xí)習(xí)慣和個(gè)性特點(diǎn)。

六年級至八年級(6-8)

CEPT測試:針對12歲以上學(xué)生,考察聽力、閱讀和語言運(yùn)用能力。

數(shù)學(xué)測試:中英文雙語題目,難度隨年級遞增。

英文寫作:要求完成一篇議論文或記敘文。

無領(lǐng)導(dǎo)小組面試:通過團(tuán)隊(duì)協(xié)作任務(wù)觀察學(xué)生的溝通和領(lǐng)導(dǎo)能力。

校長面試:綜合評估學(xué)生的學(xué)術(shù)水平及與學(xué)校育人目標(biāo)的匹配度。

九年級至十二年級(9-12)

CEPT測試:重點(diǎn)考察學(xué)生的英語綜合能力。

英文數(shù)學(xué)測試:題目為全英文,要求具備較強(qiáng)的數(shù)學(xué)思維和語言理解能力。

英文寫作:通常為話題作文,考察批判性思維和表達(dá)能力。

無領(lǐng)導(dǎo)小組面試及校長面試:全面評估學(xué)生的學(xué)術(shù)潛力、團(tuán)隊(duì)協(xié)作及價(jià)值觀。

此外,赫德學(xué)校要求家長參加面試,以了解家庭對學(xué)校教育理念的認(rèn)同度及支持情況。

國際學(xué)校常見入學(xué)考試工具介紹

國際學(xué)校在入學(xué)評估中常采用標(biāo)準(zhǔn)化測試工具,以下為幾種常見類型:

MAP測試

適用學(xué)校:鼎石、世青等美式課程學(xué)校常用。

測試內(nèi)容:包括閱讀、語言運(yùn)用、數(shù)學(xué)和科學(xué)等科目,通過自適應(yīng)題型評估學(xué)生學(xué)術(shù)水平。

CEPT測試

適用學(xué)校:赫德等校多用于中學(xué)階段入學(xué)評估。

測試內(nèi)容:重點(diǎn)考察聽力、閱讀及語言運(yùn)用能力,適合12歲以上學(xué)生。

CAT4測試

適用學(xué)校:哈羅、德威等英式學(xué)校常用。

測試內(nèi)容:為非學(xué)術(shù)性認(rèn)知能力測試,涵蓋邏輯推理、空間想象、語言推理等維度,用于評估學(xué)生的學(xué)習(xí)潛力。

升學(xué)規(guī)劃

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